| 品牌 | 其他品牌 | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
陰極發(fā)射體 
Kimball Physics設(shè)計(jì)和制造各種高性能電子發(fā)射器，以滿(mǎn)足客戶(hù)的各種需求。
這些發(fā)射器專(zhuān)為高亮度、長(zhǎng)壽命或堅(jiān)固的可靠性而設(shè)計(jì)，用于Kimball Physics
電子槍以及我們客戶(hù)的高性能儀器和工具。陰極/發(fā)射器既有標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，也有
定制設(shè)計(jì)，應(yīng)用包括電子顯微鏡、光刻、X射線(xiàn)生成、自由電子激光器、
電子加速器等。
陰極發(fā)射體基座類(lèi)型：
● 六硼化鑭（LaB6）高亮度單晶 ● 帶有Kovar或鉬引腳的高公差陶瓷
LaB6高亮度單晶——標(biāo)準(zhǔn)和保護(hù)環(huán) ● 標(biāo)準(zhǔn)陶瓷AEI底座
LaB6用于電子顯微鏡-適用于大多數(shù)系統(tǒng) ● Compact Kimball Physics CB-104基座
● 圓盤(pán)陰極 ● 各種顯微鏡底座
鉭（Ta）標(biāo)準(zhǔn)耐火圓盤(pán) ● 陰極也可以安裝在客戶(hù)提供的底座上
用于低溫操作的氧化鋇（BaO）涂層圓盤(pán)
釔（Y2O3）涂層銥盤(pán)，可承受較差的真空度
陰極 發(fā)射體選型參考表
*electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI,
Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI
* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20
Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.
** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6
★★★ 更多電鏡方面產(chǎn)品信息，比如，磁透鏡、真空腔等，可咨詢(xún)上海昊量光電設(shè)備有限公司。
關(guān)于昊量光電：
上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專(zhuān)業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類(lèi)激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國(guó)防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶(hù)提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開(kāi)發(fā)，軟件開(kāi)發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。
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