Filmetrics F20單點薄膜透明膜半透明膜厚度測量儀膜厚儀

Filmetrics F20 膜厚測量儀-測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)

您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設計的特點，F(xiàn)ilmetrics F20 膜厚測量儀適用于各種應用。

Filmetrics F20單點薄膜透明膜厚度測量儀-我們能測量什么？

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

• 薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

• 薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

• 薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面

  
  

Filmetrics F20單點薄膜透明膜厚度測量儀-膜層范例

基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜可以測量。

這包括電介質(zhì)與半導體材料，例如：

Filmetrics F20-膜厚測量范圍

Filmetrics F20-膜厚測量儀選型表：

*取決于薄膜種類

Filmetrics F20-膜厚測量儀測試原理：

Filmetrics F20-膜厚測量儀常見應用：